标准化性能：

·绝缘体分析

·高性能XPS性能

·深度剖析

·多技术联合

·双模式离子源，使深度剖析功能得到扩展

·用于 ARXPS 测量的倾斜模块

·用于仪器控制、数据处理和报告生产的 Avantage 软件

·小束斑分析

可选的升级：可将多种分析技术集成到您的检测分析中。式自动运行

·ISS：离子散射谱，分析材料表面1-2原子层元素信息，通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。

·UPS：紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息

·拉曼：拉曼光谱技术用于提供分子结构层面的指纹信息

·REELS：反射电子能量损失谱可用于H元素含量的检测以及材料能级结构和带隙信息