1、分析氟(F)到铀(U)之间的元素;
2、元素分析浓度范围<1ppm;
3、多元素同时测量时间10-60秒;
4、可选多种进样器;
5、使用CCD相机进行样品成像;
6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm,以便适应不同样品大小;
7、高性能电制冷硅漂移探测器(SDD);
8、多功能XRF应用软件;
9、薄膜厚度测量与镀层分析;
10、UniQuant技术,无标样多元素同时分析技术;
11、多语言支持;
12、机械耐久性,可保证长时间无故障运行;
13、可选TRACEcom,能够轻松与LIMS交互;
14、设计紧凑,可以轻松移动;
15、低噪音、得益于智能温控风扇;
16、自定义和现场应用方法建立功能;
17、易于安装,更易于维护。