通过比较正常样品与问题样品真空信息的变化，可以帮忙我们判断是否由于CAD GAS的异常导致了TOF分辨率的下降；或者是因为离子入口（Orifice）堵导致了灵敏度的下降。本文档介绍了如何利用OS软件，打开已采集完成的数据，查看之前采集时的真空状态。

打开一个使用相同质谱方法采集的信号正常的历史数据。

**show后选择Sample Information，打开样品数据信息。

从Sample Info 里MS Device Details: Start of Acquisition里找到样品采集时质谱的真空状态。